Profiilien halkaisijan mittaus

Micro-Epsilonin optisia mikrometrejä käytetään metallitankojen paksuuden valvontaan. X-Frame-mittausjärjestelmällä halkaisijaa mitataan jatkuvasti. Kaksi lasermikrometriä mittaavat halkaisijan korkealla resoluutiolla ja mittausnopeudella. X-Frame mahdollistaa eri paksuuksien mittaamisen, ja digitaalisten liitäntöjen kautta tiedot välitetään eteenpäin ohjausjärjestelmiin.

Suositeltu anturitekniikka

optoCONTROL 2520

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
Vantaankoskentie 14
01670 Vantaa, Finland
jouko.kuosmanen@micro-epsilon.fi
+358 40 8484 109