Yhteystiedot
Lataukset

thicknessGAUGE

Anturijärjestelmä tarkkoja paksuuden mittauksia varten

thicknessGAUGE C.LP

thicknessGAUGE C.LP -anturijärjestelmissä käytetään laserprofiiliskannereita paksuuden mittaamiseen. Skannerit heijastavat laserviivan mitattavalle pinnalle. Laserviiva kompensoi nauhan kallistumisen ja mahdollistaa profiilin keskiarvoistamisen. Laserviivaa käyttävä mittaustekniikka mahdollistaa strukturoitujen materiaalien, kuten kaiverrettujen pintojen ja rei’itettyjen levyjen paksuuden mittaamisen

Yhteystiedot
logo

Ominaisuudet

  1. Käytetty anturiteknologia: Siniset laserprofiilianturit
  2. Mittausalue (paksuus): 15 mm
  3. Tarkkuus: ±1,2 µm
  4. Mittausnopeus enintään 100 Hz
  5. Strukturoiduille materiaaleille, kuten rei’itetyille ja kaiverretuille levyille
  6. Best-fit line -mahdollisuus
  7. Kompensointi kallistetuille nauhoille
[]
Yhteystiedot
MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
+358 40 8484 109
Yhteystietolomake
Pyyntösi: {product}
Please enter the result of the calculation below. This will avoid spam.
captcha
* Pakolliset kentät
Käsittelemme tietojasi luottamuksellisesti. Tutustu tietosuojalausekkeeseen.
Technische Zeichnung Dickenmesssystem

thicknessGAUGE C.LP -anturijärjestelmää käytetään tarkkaa nauhojen ja levyjen paksuuden mittausta varten. Sitä voidaan käyttää myös kiinteisiin mittauksiin esim. keskiviivan mittauksissa (keskustan paksuus) tai reunojen paksuuden mittauksissa. Lineaariyksikkö mahdollistaa liikkuvat paksuuden mittaukset enintään 600 mm leveille nauhoille.

Lataukset