Yhteystiedot
Lataukset

thicknessGAUGE

Anturijärjestelmä tarkkoja paksuuden mittauksia varten

thicknessGAUGE C.LP

thicknessGAUGE C.LP -anturijärjestelmissä käytetään laserprofiiliskannereita paksuuden mittaamiseen. Skannerit heijastavat laserviivan mitattavalle pinnalle. Laserviiva kompensoi nauhan kallistumisen ja mahdollistaa profiilin keskiarvoistamisen. Laserviivaa käyttävä mittaustekniikka mahdollistaa strukturoitujen materiaalien, kuten kaiverrettujen pintojen ja rei’itettyjen levyjen paksuuden mittaamisen

logo

Ominaisuudet

  1. Käytetty anturiteknologia: Siniset laserprofiilianturit
  2. Mittausalue (paksuus): 15 mm
  3. Tarkkuus: ±1,2 µm
  4. Mittausnopeus enintään 100 Hz
  5. Strukturoiduille materiaaleille, kuten rei’itetyille ja kaiverretuille levyille
  6. Best-fit line -mahdollisuus
  7. Kompensointi kallistetuille nauhoille
[]
Yhteystiedot
Jouko Kuosmanen
Yhteystietolomake
Pyyntösi: {product}
Please enter the result of the calculation below. This will avoid spam.
captcha
* Pakolliset kentät
Käsittelemme tietojasi luottamuksellisesti. Tutustu tietosuojalausekkeeseen.

thicknessGAUGE C.LP -anturijärjestelmää käytetään tarkkaa nauhojen ja levyjen paksuuden mittausta varten. Sitä voidaan käyttää myös kiinteisiin mittauksiin esim. keskiviivan mittauksissa (keskustan paksuus) tai reunojen paksuuden mittauksissa. Lineaariyksikkö mahdollistaa liikkuvat paksuuden mittaukset enintään 600 mm leveille nauhoille.