Levyjen paksuuden mittaus raakavalssauksessa

Ensimmäisissä valssausprosesseissa levyn paksuuden mittaamiseksi käytetään laseretäisyysantureita, jotka mittaavat valssatun materiaalin yläpuolelta. Korkeiden lämpötilojen, höyryn ja emulsioiden vuoksi tarvitaan pitkän etäisyyden mittauksia, joihin käytetään optoNCDT ILR2250 -laseretäisyysantureita. Anturit määrittävät paksuuden valssaimen ja päällä olevan levyn eron perusteella.

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
Vantaankoskentie 14
01670 Vantaa, Finland
jouko.kuosmanen@micro-epsilon.fi
+358 40 8484 109