Konfokaaliset anturit

confocalDT IFS 2402
Ominaisuudet
  • Mittausalueet (mm):
    0,4 | 1,5 | 2,5 | 3,5
  • Lineaarisuus enint. 0,3 µm
  • Erottelukyky enint. 0,016 µm
  • Ainutlaatuisen pienikokoinen anturi
  • Mittaus porarei'issä
  • Vankka rakenne
  • Akselin suuntainen ja säteittäinen versio
Ominaisuudet
  • Mittausalueet (mm):
    0,4 | 1,5 | 4 | 10
  • Lineaarisuus enint. 0,3 µm
  • Erottelukyky enint. 0,016 µm
  • Hybridirakenteinen Titaanikotelo
  • Pidempi perusetäisyys
  • Akselinsuuntainen mittaus
  • Passiivinen mittausjärjestelmä
Ominaisuudet
  • Mittausalue 2mm
  • Lineaarisuus enint. 1 µm
  • Resoluutio 0,040 µm
  • Etäisyyden ja paksuuden mittaus yhdeltä puolelta
Ominaisuudet
  • Mittausalue 2 mm
  • Lineaarisuus enint. 1 µm
  • Resoluutio 0,040 µm
  • Sovelluksiin, joissa käsitellään suuria tuotemääriä
  • 90°:n linssi mahdollistaa asennuksen ahtaisiin tiloihin
Ominaisuudet
  • Mittausalueet (mm):
    0,300 | 1 | 3 | 6 | 10 | 28 | 30
  • Lineaarisuus enint. 0,15 µm
  • Erottelukyky enint. 0,01 µm
  • Erittäin pieni mittauspiste
  • Korkea mittaustarkkuus myös peileistä ja lasista
  • Nanoerottelukyky
  • Paksuuden mittaus yhdestä suunnasta
Ominaisuudet
  • Mittausalueet (mm):
    2,5 | 3 | 10
  • Lineaarisuus enint. 0,75 µm
  • Erottelukyky enint. 0,024 µm
  • Etäisyyden ja paksuuden mittaus yhdestä suunnasta
  • Pieni valopiste
  • Tyhjiökäyttöön sopiva anturi
Ominaisuudet
  • Mittausalue (mm): 0,3
  • Lineaarisuus: enint. 0,75 µm
  • Resoluutio: enint. 10 nm
  • Sopii erinomaisesti siirtymien ja karkeuden mittaukseen
  • Pieni mittauspiste: 6 µm
  • Erinomainen tarkkuus ja suuri kallistuskulma
Ominaisuudet
  • Mittausalue (mm): 0,1 Lineaarisuus: enint. 0,05 µm
  • Resoluutio: enint. 3 nm
  • Ihanteellinen etäisyys- ja karheusmittauksiin
  • Kevytintensiivinen anturiversio saatavana suurnopeusprosesseille (NA 0,7)
  • Pieni mittauspisteen koko: 3 µm
  • Suuri herkkyys ja suuri kallistuskulma
  • Läpinäkyvien esineiden paksuusmittaus alk. 5 µm
Ominaisuudet
  • Mittausalue (mm): 3
  • Lineaarisuus: enint. 0,75 µm
  • Resoluutio: enint. 20 nm
  • Pitkä mittauksen aloitusetäisyys: n. 28 mm
  • Suurin kallistuskulma ± 30°
  • Ihanteellinen kaarevien ja heijastavien pintojen mittaamiseen

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
Vantaankoskentie 14
01670 Vantaa, Finland
jouko.kuosmanen@micro-epsilon.fi
+358 40 8484 109