Tarkkaa litteän lasin ja kalvojen paksuuden mittausta

14.09.2021

interferoMETER IMS5400-TH70 on nyt saatavilla uudella IMP-TH70-anturilla. Se mahdollistaa pitkän 70 mm:n toimintaetäisyyden. Lisäksi valopisteen halkaisija on vain 5 µm. Aikaisempaa suurempi ± 4,5° kallistuskulma mahdollistaa vakaat mittaustulokset jopa hieman kaarevilta ja strukturoiduilta pinnoilta.
Nanometrin tarkkoihin paksuuden mittauksiin tarkoitettu valkoisen valon IMS5400-TH-interferometri on Micro-Epsilonin tarkin optinen mittausjärjestelmä, jonka kestävä rakenne tekee siitä erinomaisen valinnan tuotantolinjoille asennettavaksi. Kaikissa innovatiivisissa valkoisen valon interferometreissä on monipuoliset kytkentävaihtoehdot erilaisiin ohjausjärjestelmiin ja tuotanto-ohjelmiin integroimista varten. Niihin kuuluvat digitaaliset käyttöliittymät, kuten Ethernet/EtherCAT sekä analogilähtö. Koko ohjauselektroniikan ja antureiden konfigurointi tehdään tavalliseen tapaan web-liittymän kautta. Se tarjoaa hyvin jäsennellyt ja yksinkertaiset asetus- ja parametrointivaihtoehdot.

Miksi kannattaa valita interferoMETER IMS5400?

• Nanometrin tarkkaa paksuuden mittausta jopa vaihtelevilla etäisyyksillä ja tärisevillä mittauskohteilla
• Vakaat mittaukset pitkältä etäisyydeltä ja jopa heijastuksenestopinnoitetuista kohteista
• Teollisuuskäyttöön optimoidut anturit kestävällä metallikoteloinnilla ja joustavilla kaapeleilla
• Jopa 6 kHz:n mittausnopeus nopeita mittauksia varten
• Ethernet/EtherCAT/RS422