Optiset paksuusmittarit litteille tuotteille

thicknessCONTROL MTS 8202 -järjestelmiä käytetään kylmävalssaamojen prosessiluotettaviin paksuusmittauksiin. Mittaukset on mahdollista tehdä myös heijastavilta ja kiiltäviltä pinnoilta kuten kuparinauhoilta, päällystetyltä metallilta ja kiiltävältä alumiinilta. Näitä mittauksia varten järjestelmissä on konfokaaliset anturit, jotka mittaavat luotettavasti myös muuttuvilta pinnoilta. Mittaus tehdään kosketuksettomasti, jolloin se ei aiheuta reaktioita ja mittaukset voidaan tehdä luotettavasti jopa erittäin herkiltä materiaaleilta. Korkean mittausnopeuden ansiosta myös dynaamiset prosessit voidaan tunnistaa luotettavasti.

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
Vantaankoskentie 14
01670 Vantaa, Finland
jouko.kuosmanen@micro-epsilon.fi
+358 40 8484 109