Suprajohtavien nauhojen valmistus tehosovelluksiin vaatii suurinta tarkkuutta ja materiaalin parasta mahdollista suojaa. Tyypillisesti 12 mm leveät ruostumattomasta teräksestä valmistetut nauhat käsitellään nikkeliseoksella ja leikataan useiksi kapeiksi nauhoiksi – esimerkiksi 3 tai 4 mm leveiksi segmenteiksi, joiden välissä on vain 0,5 mm:n raot. Koska nauhoissa on myös herkät PVD-pinnoitteet, leveyden ja segmenttien mittausten on oltava kosketuksettomia ja erittäin tarkkoja.

Reaaliaikainen laadunvalvonta maksimaalisen prosessiluotettavuuden takaamiseksi
Micro-Epsilonin optoCONTROL 2700-40 -laitteella nauha mitataan suoraan leikkauksen jälkeen prosessin jatkuessa. Optisen mikrometrin näkökentässä havaitaan 12 mm leveä loputon nauha. ”Monisegmentti”-esiasetuksen ansiosta sekä kokonaisleveys että yksittäisten osioiden leveydet voidaan mitata tarkasti. Jopa segmenttien väliset kapeat 0,5 mm:n raot havaitaan ja valvotaan luotettavasti. Koska mittaustulokset lähetetään linjan PLC:lle reaaliajassa, mitattuja arvoja voidaan käyttää välittömästi prosessinohjauksessa.

Maksimaalinen tarkkuus ja minimaalinen hukka
Optiset tarkkuusmikrometrit tarjoavat useita ratkaisevia etuja vaativiin leikkaus- ja pinnoitusprosesseihin. Koska mittaus on kosketuksetonta, herkät nikkeli- ja PVD-pinnoitteet eivät altistu mekaaniselle rasitukselle, joten naarmuuntumisen tai muodonmuutoksen vaaraa ei ole. Samalla optoCONTROL 2700-40 -mikrometrit erottuvat edukseen äärimmäisen tarkkuudellaan: 10 nm:n resoluutiolla ja ≤ 0,1 µm:n toistettavuudella jopa erittäin kapeat nauhat voidaan havaita luotettavasti. 5 kHz:n mittausnopeudella nämä anturit mahdollistavat juoksevien nauhojen nopean ja saumattoman valvonnan, jolloin poikkeamat havaitaan välittömästi ja hukka minimoidaan. Joustavien rajapintojen, kuten EtherCAT-, PROFINET-, Ethernet/IP- tai analogisten signaalien, avulla järjestelmä voidaan myös integroida saumattomasti olemassa oleviin leikkaus- ja tuotantojärjestelmiin.