3D-anturi kiiltävien pintojen tarkkaan tarkistukseen

19.04.2021

reflectCONTROL-anturi tunnistaa alle 1 µm:n kokoiset litteyden poikkeamat ja sitä käytetään esimerkiksi puolijohdetuotannon kiekkojen tunnistukseen ja litteän lasin laadunvalvontaan esimerkiksi älypuhelimien valmistuksessa.
Tämä kompakti anturi luo raitakuvion, joka peilataan mitattavan kohteen pinnalta anturin kameroihin. Pinnan poikkeamat aiheuttavat raitakuvioon muutoksia, jotka ohjelmisto arvioi.
reflectCONTROL-anturia käytetään aina kun halutaan tarkkoja 3D-mittauksia heijastavista ja kiiltävistä pinnoista. reflectCONTROL-teknologia toimii erityisen vakuuttavasti litteillä pinnoilla mikrometrin tarkkuudella tehdyissä nopeissa mittauksissa.

Miksi kannattaa valita reflectCONTROL-anturi?

  • Pienten (< 1 µm) kohteiden luotettava tunnistus
  • Tarkistusnopeus < 2 sekuntia mittausasentoa kohden
  • Kiinteä tai robottipohjainen tarkistus
  • Ohjelmiston integrointi Micro-Epsilonin 3D-SDK:n kautta alan standardien pohjalta
  • GigE Vision ja GenICam

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
Vantaankoskentie 14
01670 Vantaa, Finland
jouko.kuosmanen@micro-epsilon.fi
+358 40 8484 109