3D-anturit geometrian ja pintojen tarkistuksiin
kiiltäville pinnoille
inline-laaduntarkastukseen
Micro-Epsilonin uuden sukupolven 3D-anturit tekevät vaikutuksen mittaustarkkuudellaan ja komponenttien ja pintojen arvioinnillaan. Micro-Epsilonin surfaceCONTROL- ja reflectCONTROL-tarkistusjärjestelmät on tarkoitettu mattapinnoille ja kiiltäville pinnoille. 3D-kuvat tallennetaan nopeasti ja ne tarjoavat yksityiskohtaiset 3D-pistepilvet.
Näitä 3D-antureita käytetään esimerkiksi geometristen komponenttien testaamiseen, sijainnin määritykseen, paikallaanolon tarkastamiseen sekä tasaisuuden mittaamiseen. Tehokkuutensa vuoksi näitä antureita käytetään inline-sovelluksissa, roboteissa ja offline-tarkistuksissa.
- Tarkkaa geometrian, muodon ja pinnan tarkistusta
- Tehokas ohjelmisto 3D-mittauksiin ja tarkistuksiin
- Helppo integrointi kaikkiin tavallisiin 3D-kuvankäsittelypaketteihin
- Kattava SDK ja arviointiohjelmisto
- Tarkkuuden ansiosta pienimmätkin yksityiskohdat tunnistetaan
Erittäin tarkkaa inline-tarkistusta
Micro-Epsilonin 3D-järjestelmiä käytetään useissa mattapintojen ja kiiltävien pintojen mittaus- ja tarkistusjärjestelmissä. Tulokset voidaan dokumentoida ja ne ovat vertailtavissa. Näin voidaan tehdä tärkeitä johtopäätöksiä prosessien parantamiseksi. Kaikkia Micro-Epsilonin 3D-antureita voidaan käyttää offline-sovelluksissa sekä täysin automatisoidussa toiminnassa ja roboteissa.
scanCONTROL
3D-laserskannerit inline-laaduntarkastukseen
ScanCONTROL 3D -skannereita käytetään erittäin tarkkoihin 3D-inline-skannauksiin.
surfaceCONTROL
surfaceCONTROL-anturit mahdollistavat tarkat pintaskannaukset vikojen tai muodonmuutosten tunnistamiseksi.
reflectCONTROL-anturi
reflectCONTROL-antureita käytetään kiiltävien pintojen pinnan tarkastukseen ja niillä saavutetaan korkea X- ja Z-resoluutio.
reflectCONTROL: Heijastavien ja kiiltävien pintojen tarkistus
