Kalustamattomien piirilevyjen 3D-tarkistus

Perinteiset tarkastusjärjestelmät, kuten mittausmikroskoopit, eivät sovellu automaattiseksi inline -testiratkaisuksi, koska tarkastusprosessi kestää kauan ja nämä mikroskoopit ovat erittäin kalliita. Micro-Epsilonin 3D-antureita käytetään siksi täysin automaattisen inline-tarkastuksen mahdollistamiseen.

Erittäin tarkka 3D-anturi CONTROL 3D 3510 mittaa suoraan tuotantolinjalla piirilevyn mitat ja pinnan. Työskentelyetäisyys on 120-140 mm. Tallennetut mittausarvot lasketaan anturista ja lähetetään ulkoiselle tietokoneelle integroidun Gigabit Ethernet -liitännän kautta. 3D -tietojen jatkokäsittely, arviointi ja kirjaaminen on mahdollista tehokkaalla 3DInspect -ohjelmistolla.