Konfokaalinen skanneri confocalLINE CLI8500 avaa uuden luvun 3D-mittausteknologiassa: se tarjoaa äärimmäistä tarkkuutta, poikkeuksellisen suurta pistetiheyttä ja vaikuttavaa dynamiikkaa kompaktissa järjestelmässä. Peräti 2 624 mittauspisteellä profiilia kohden ja 0,2 µm:n Z-akselin erottelukyvyllä confocalLINE CLI8500 havaitsee luotettavasti ja yksityiskohtaisesti jopa hienoimmatkin rakenteet. Suuret kallistuskulmat laajentavat entisestään anturin käyttömahdollisuuksia monimutkaisten geometrioiden ja haastavien pintojen kohdalla.
Uusia mahdollisuuksia haastaville pinnoille
Konfokaalinen mittausperiaate mahdollistaa tarkan mittauksen mattapinnoilla, voimakkaasti heijastavilla ja läpinäkyvillä pinnoilla. Koska mittauksessa hyödynnetään vain kohdistettua aallonpituutta, tulokset ovat pitkälti riippumattomia materiaalin väristä ja pinnan ominaisuuksista. Tämä avaa confocalLINE CLI8500 -järjestelmälle laajan käyttökohteiden kirjon puolijohdeteollisuudesta sekä elektroniikan ja akkujen valmistuksesta aina koneenrakennukseen ja lääketieteelliseen teknologiaan. Uusi anturisarja yhdistääkin äärimmäisen tarkkuuden nykyaikaisen teollisen 3D-mittausteknologian nopeuteen ja joustavuuteen.
Kompakti rakenne, älykäs integrointi
Luokkansa pienimpänä konfokaalisena skannerina CLI8500 tarjoaa pienestä koostaan huolimatta laajan, 7 mm:n mittausalueen. Datan käsittely tapahtuu suoraan anturissa, mikä vähentää järjestelmän monimutkaisuutta ja datakuormaa. SMART-tilassa mittausohjelmat tallennetaan suoraan anturiin ja suoritetaan itsenäisesti, jolloin lopulliset mittaustulokset saadaan ulos ilman erillistä käsittelytietokonetta. Liitännät, kuten PROFINET, EtherCAT, EtherNet/IP, GenICam ja GigE Vision, mahdollistavat joustavan integroinnin automaatio- ja kuvankäsittelyjärjestelmiin.
Äärimmäinen tarkkuus ja korkea dynamiikka
Z-akselin 0,2 µm:n resoluutiolla CLI8500 tunnistaa luotettavasti hienoimmatkin rakenteet, kapeat reunat ja pienimmätkin askeleet. Samalla anturi saavuttaa jopa 2 kHz:n mittausnopeuden koko käyttökelpoisella mittausalueella. Viivan suunnassa jopa ±80 asteen kallistuskulma mahdollistaa vakaat mittaukset myös kaltevilla tai monimutkaisen muotoisilla kappaleilla.