Font-Size
Contrast
Blue-Filter
Siirry suoraan päänavigointiin Suora pääsy sisältöön
Funktionserweiterung zur Oberflächeninspektion

Toiminnallinen laajennus pintatarkastukseen

3DInspect-ohjelmistotyökalun versio 3.0 on nyt saatavilla. Tärkein uusi ominaisuus on ”Pintatarkastus”-toimintolaajennus. Tämän ominaisuuden avulla on nyt mahdollista havaita ja arvioida pinnan poikkeamia. 3DInspect tarjoaa tehokkaat työkalut…

Lue lisää
Inline measurement with interferoMETER IMS5200

Ohuiden kerrosten tarkka inline mittaus

InterferoMETER IMS5200-TH -sarjan uusia valkoisen valon interferometrejä käytetään nanometrin tarkkuudella tehtäviin pinnoitteen paksuuden mittauksiin 1–100 mikrometrin alueella. Uudet valkoisen valon interferometrit sopivat ihanteellisesti…

Lue lisää
Konfokale Sensoren von Micro-Epsilon

Mittaustehtävien hallinta tyhjiössä

Puolijohdeteollisuudessa, optiikassa tai ilmailussa tyhjiössä tehtävät mittaukset ovat osa arkea, mutta ne asettavat myös korkeimmat vaatimukset anturiteknologialle. Micro-Epsilon tarjoaa sekä katalogi-antureita että erityisesti kehitettyjä…

Lue lisää
Laser-Sensoren von Micro-Epsilon

Teollisuudesta huipputeknologiaan: laser-anturit kaikkiin tilanteisiin

OptoNCDT-laserantureillaan Micro-Epsilon tarjoaa laajan valikoiman mittausalueita 2–1000 mm. Tämä tekee näistä antureista sopivia monenlaisiin sovelluksiin monilla eri teollisuudenaloilla.

Lue lisää